数据来源：天眼查APP證券之星消息，根據天眼查APP數據顯示ST華微（600360）新獲得一項實用新型專利授權，專利名爲「一種芯粒電參數曲線測試台及測試裝置」，專利申請號爲CN202420035457.5，授權日爲2024年12月24日。
專利摘要：本申請公開了一種芯粒電參數曲線測試台及測試裝置，涉及芯粒電參數測試技術領域，用於解決現有技術中測試芯粒的電參數曲線的效率比較低的技術問題。所述測試台包括墊板、支撐圈和探針組件，所述墊板用於放置芯粒；所述支撐圈通過支撐架安裝在所述墊板的上方；所述探針組件的數量爲多個，多個所述探針組件均安裝在所述支撐圈上，所述探針組件與芯粒的電極電接觸。本申請通過在支撐圈上設置多個探針組件，只需一個人就可以使探針組件與芯粒的多個電極接觸，不需要多個人同時操作，從而可以提高對芯粒的電參數曲線的測試效率。
今年以來ST華微新獲得專利授權23個，較去年同期減少了37.84%。結合公司2024年中報財務數據，今年上半年公司在研發方面投入了6046.38萬元，同比增13.15%。
數據來源：天眼查APP
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