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普冉股份获得发明专利授权:“一种调整芯片参数的测试方法”

普冉股份獲得發明專利授權:“一種調整芯片參數的測試方法”

證券之星 ·  06/15 02:20

證券之星消息,根據企查查數據顯示普冉股份(688766)新獲得一項發明專利授權,專利名爲“一種調整芯片參數的測試方法”,專利申請號爲CN202110256152.8,授權日爲2024年6月14日。

專利摘要:本發明公開了一種調整芯片參數的測試方法,該方法包括:S1、獲取芯片在測試時的芯片參數;S2、判斷所述芯片在測試時的芯片參數是否在設定範圍之內,若否,根據該芯片參數與芯片可調整變量之間的對應關係確定所述芯片調整至目標值所需的可調整變量組合;S3、將所述可調整變量組合賦值給芯片,進而使芯片參數達到最優。根據測量到的芯片參數,找到該芯片參數與可調整變量之間對應關係,進行二維或多維的動態調整,達到最優可調整變量組合,進而保證芯片參數的穩定性與平衡性,減小芯片收批次不同的影響。

今年以來普冉股份新獲得專利授權8個,較去年同期增加了166.67%。結合公司2023年年報財務數據,2023年公司在研發方面投入了1.91億元,同比增28.74%。

數據來源:企查查

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