證券之星消息，根據企查查數據顯示利揚芯片（688135）新獲得一項發明專利授權，專利名爲“存儲器修復測試方法及系統”，專利申請號爲CN202110682992.0，授權日爲2024年5月14日。
專利摘要：本發明公開了一種存儲器修復測試方法及系統，其中該方法包括如下步驟：生成一信息統計記錄表；通過測試向量對待測存儲器進行數據分析和地址解析，以得到存儲器中失效存儲單元的地址信息和數據信息；將失效存儲單元的地址信息和對應的數據信息錄入信息統計記錄表中；當所有測試向量執行完畢後，根據信息統計記錄表中記錄的信息對存儲器中失效存儲單元進行修復處理；採用上述存儲器修復測試方法，在採用多段測試向量對存儲器進行測試過程中，中間無須停頓，待所有測試向量執行完畢後，統一有有序地對所有的失效存儲單元進行修復處理，具有測試和修復處理效率高的優點，有效節約測試時間。
今年以來利揚芯片新獲得專利授權8個，較去年同期增加了300%。結合公司2023年年報財務數據，2023年公司在研發方面投入了7516.24萬元，同比增11.26%。
數據來源：企查查
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